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簡要描述:現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計調(diào)試和測試是另一項復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號外,設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(例如,用于改變放大器的增益)。所有這些都需要通過為每個產(chǎn)品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路?;诙嗄晟漕l探測技術(shù)實操經(jīng)驗和深耕為滿足國產(chǎn)測試需求而研制,可N個觸點射頻探測技術(shù),快速測試您的RF IC
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優(yōu)良的DC至110 GHz同軸提參技術(shù)
業(yè)內(nèi)頂配的測量儀表+建模人員團隊
滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃
可快速交付50、100、150、200和250µm的傾斜探頭
可選擇鈹銅或鎳合金材料(推薦鎳合金)
擁有超過110000次的老化實驗
可兼容多家校準片或使用GCC校準片
GCP射頻微波探針:
連接器接頭: 2.92mm母頭 針尖配置: GSG 針尖中心距:50~250um 針尖寬度: 28um 滑行距離: ≤30um | 探針頭示意圖 |
jGCP40產(chǎn)品有多個型號和不同中心間距可以選擇,詳細選型請聯(lián)系我們。
我們的射頻探測技術(shù),用于表征射頻集成電路。 間距從 50 μm 到 250μm,可滿足您的多種測試需求。 使用在線設(shè)計捕獲表單,根據(jù)您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道,構(gòu)建您的探針。
注:商用探針尖射頻校準標準采用共面設(shè)計,包括不同類型的校準元件:開路、短路、負載和線路。 因此,可以進行各種類型的探頭尖部校準
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